
信号反射并非由信号发生器本身直接引起,而是源于整个信号传输链路中的阻抗不连续。理解其根本原因,是制定有效解决方案的前提。
当信号发生器输出阻抗(如50Ω)与传输线或负载阻抗不一致时,信号会在接口处发生反射。例如:50Ω输出连接75Ω负载,将导致约14%的信号被反射。
当传输线长度超过信号上升时间的1/6时,需考虑传输线效应。此时,信号反射会变得严重,尤其在高频(>100MHz)或高速数字系统中。
劣质连接器易造成接触不良或阻抗波动,成为反射源。例如,松动的SMA连接器可能引入微小的电容变化,破坏阻抗平衡。
在整个测试系统中统一采用50Ω标准(包括信号发生器、电缆、负载、示波器探头等),从源头避免阻抗差异。
在信号源端(信号发生器)和负载端均进行阻抗匹配。若无法在负载端加终端电阻,可启用信号发生器的“源端匹配”功能。
示波器探头应选择50Ω输入模式,而非1MΩ高阻模式,特别是在高频测量中。否则,高阻抗会引入反射。
利用矢量网络分析仪(VNA)检测系统S参数,识别反射点位置与程度,帮助定位问题所在并优化设计。
尽量缩短信号路径,避免多级分支或并联连接。每增加一个连接点,都可能引入新的反射源。
案例:某工程师在测试高速串行接口(如USB 3.0)时发现眼图闭合,经排查发现是由于信号发生器未启用50Ω端接,且探头为1MΩ模式。更换为50Ω探头并启用端接后,信号质量显著提升。
信号发生器虽非反射的“制造者”,但其配置与连接方式直接影响反射程度。通过系统性地管理阻抗匹配、优化连接结构、善用测试工具,可有效预防信号反射,确保测试结果真实可靠。
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